ICS._31. 020 L 90 中华人民共和国国家标准 GB/T 16822--1997 介电晶体介电性能的试验方法 Test method for dielectric properties of dielectric crystal 国家标准全文公开系统专用，此文本仅供个人学习、研究之用 未经授权，禁止复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。 全国标准信息公共服务平台：https：//stdl.samr.gov.cn 1997-05-28发布 1998-02-01实施 国家技术监督局 发布 GB/T 16822-1997 前 創言 本标准根据GB/T1.1-1993《标准化工作导则第1单元：标准的起草与表述规则 第1部分：标 准编写的基本规定》表达了介电晶体介电性能的试验方法。 本标准参考了GB11297.11—89《热释电材料介电常数的测试方法》、GB11297.9—89《热释电材料 介质损耗角正切tan的测试方法》及GB11294一89《红外探测材料半导体光电材料和热释电材料常用 名词术语》三个标准。 本标准的特点是针对介电晶体的介电性能与其结晶学对称性有关，采用介电系数张量来描述其介 低频下其介电系数及介电损耗的测量方法。 本标准由中国科学院物理研究所提出。 本标准由中国科学院归口。 本标准起草单位：中国科学院物理研究所。 本标准主要起草人：张道范、朱镛。 1 中华人民共和国国家标准 介电晶体介电性能的试验方法 GB/T16822—1997 Test method for dielectric properties of dielectric crystal 1 范围 本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。 本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。 2试验方法 2.1介电系数 2.1.1定义 介电系数dielectric coefficient 将原来不带电的介电晶体置于电场中，在其内部和表面上会感生出一定的电荷即产生电极化现象， 用电极化强度矢量P描述。当电场强度E不太强时，介质中的电极化强度P和电场强度E成线性关系。 量D和E有不同的方向，在直角坐标系中，晶体内这三者的关系可用式(1)表示： D.=E,+P,=E .(1) [E 12 E13] [e;] |E21 E22 23 (i,j=l,2,3) (2) LE31 E32 E33- 式中：ε-——真空介电系数，1,2,3分别代表直角坐标轴X,Y,Z； [ei,]一—晶体的介电系数张量，该张量为二阶对称极张量，即Eij=Eji。 描述二阶张量可选用三个相互垂直的主轴为坐标轴（称主轴坐标系），在主轴坐标系中可将二阶介 电系数张量简化为只含对角项，称主介电系数。 晶体的介电系数张量的独立分量数目与其对称性有关： 对于立方晶系只有一个独立的介电系数E11=E22=E33 对于三方，四方，六方晶系有两个独立的介电系数E11=E22，E33。取晶体的高次对称轴（c轴）为介电 主轴，另两个介电主轴在垂直c轴的平面内，取结晶轴α轴为另-一介电主轴。 对于正交晶系有三个独立的介电系数ε11,E22，633。取晶体的结晶轴(a、b、c轴)为三个介电主轴。 对于单斜晶系有四个独立的介电系数ε11,E22，E33，E31。取晶体的二次对称轴(b轴）为介电主轴。另 两个介电主轴在垂直6轴的平面内，通过实验测量位于这平面内的三个独立的介电系数，可以确定这两 个介电主轴的方向和大小。 对于三斜晶系有六个独立的介电系数ε11，E22，E33，E12，E23，&3!。可任意选一直角坐标系，通过实验测量 六个独立的介电系数，经过数学运算可以确定三个介电主轴的方向和大小。 2.1.2试验原理 在本标准的表示方法中，;是无量纲量，即为相对介电系数。由于晶体的介电系数与测试频率有关， 国家技术监督局1997-05-28批准 1998-02-01实施 1