(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210935281.4 (22)申请日 2022.08.05 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115062495 A (43)申请公布日 2022.09.16 (73)专利权人 深圳市联嘉 祥科技股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙华区观湖街 道鹭湖社区科盛路联嘉祥科创PARK1 栋1901 (72)发明人 黄如丽　 (74)专利代理 机构 深圳市育科知识产权代理有 限公司 4 4509 专利代理师 宋朋慧 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01)G06F 17/16(2006.01) G06F 113/16(2020.01) G06F 119/02(2020.01) 审查员 简文雨 (54)发明名称 材料绝缘性能分析方法、 装置、 电子设备及 存储介质 (57)摘要 本发明涉及数据分析技术， 揭露了一种材料 绝缘性能分析方法、 装置、 电子设备以及计算机 可读存储介质， 包括： 根据目标材料的测试数据 集构建二维统计图谱； 对二维统计图谱对应的核 矩阵进行中心化处理， 得到标准核矩阵， 计算所 述标准核矩阵对应的特征值， 将所述特征值对应 的测试数据作为标准特征数据； 根据对所述标准 特征数据进行阶段识别得到的阶段识别结果对 测试数据集进行第一绝缘性能分析， 得到第一绝 缘性能分析结果， 基于定位测试设备对目标材料 进行第二缘性能分析， 得到第二绝缘性能分析结 果， 根据所述第一及第二绝缘性能分析结果得到 最终绝缘性能分析结果。 本发明可以较为全面地 评估材料的绝缘性能。 权利要求书2页 说明书13页 附图2页 CN 115062495 B 2022.12.16 CN 115062495 B 1.一种材 料绝缘性能分析 方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 采集预设外部环境下目标材料的包括温度、 电、 水、 辐照以及应力参数的测试数据集， 并根据所述测试 数据集构建二维统计图谱； 基于预设的核函数公式计算所述二维统计图谱对应的核矩阵， 并对所述核矩阵进行中 心化处理， 得到标准核矩阵： 其中， K′为所述标准核矩阵， INN为预先设定的目标阶数对应的单位矩阵， ENN为所述目标 阶数对应的全一矩阵， N 为所述目标阶数， K为核矩阵； 获取预设的初始单位矩阵E， 根据所述初始单位矩阵及所述标准核矩阵构建特征多项 式|K′ ‑λE|， 对所述特征多项式进行矩阵求解， 得到特征值λ， 并将所述特征值对应的测试数 据作为标准特 征数据； 基于支持向量机模型构建多分类阶段识别模型， 利用所述多分类阶段识别模型对所述 标准特征数据进行放电识别， 得到放电识别结果， 其中， 所述放电识别结果包括具有电树枝 放电信号的结果和无电树枝放电信号的结果两种， 当所述放电识别结果为具有电树枝放电 信号时， 对所述标准特征数据进 行时期划分， 得到阶段识别结果， 根据所述阶段识别结果对 所述测试 数据集进行第一 绝缘性能分析， 得到第一 绝缘性能分析 结果； 利用定位测试设备对所述目标材料进行定位测试， 并根据 所述定位测试得到的测试数 据进行图像 绘制， 得到定位谱图， 根据所述定位谱图确定所述目标材料中的受潮节段， 并统 计所述受潮节段的节段数量， 根据所述节段数量所 处的预设区间判定所述目标材料的绝缘 情况， 并得到第二绝缘性能分析结果， 根据所述第一绝缘性能分析结果和所述第二绝缘性 能分析结果进行合并分析， 得到最终绝 缘性能分析 结果。 2.如权利要求1所述的材料绝缘性能分析方法， 其特征在于， 所述对所述核矩阵进行中 心化处理， 得到标准核矩阵， 包括： 设定目标阶数， 并获取 所述目标阶数对应的单位矩阵和全一矩阵； 将所述单位矩阵、 所述全一矩阵及所述核矩阵输入至预构建的中心化公式中， 得到标 准核矩阵。 3.如权利要求1所述的材料绝缘性能分析方法， 其特征在于， 所述基于预设的核函数公 式计算所述 二维统计图谱 对应的核矩阵， 包括： 利用下述线性核函数公式计算所述 二维统计图谱 对应的核矩阵： 其中， Kij为所述核矩阵中的元素， xi、 xj分别表示从所述二维统计图谱中获得的第i个统 计参量及第j个统计参量， 表示第i个统计参量对应的向量， T表示向量转置， 表示第j个统计参 量对应的向量。 4.如权利要求1所述的材料绝缘性能分析方法， 其特征在于， 所述根据 所述测试数据集 构建二维统计图谱， 包括： 利用预设的聚类算法对所述测试数据集中的测试数据进行聚类分析， 得到多个聚类子权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115062495 B 2集； 识别多个所述聚类子集中的聚类特征标签， 并利用所述 聚类特征标签对所述 聚类子集 进行标签标记， 得到多个标记子集； 随机提取每个所述标记子集中的测试数据并按照预设的连接顺序将提取的所述测试 数据进行 连接处理， 得到二维统计图谱。 5.一种材 料绝缘性能分析装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 图谱构建模块， 用于采集预设外部环境下目标材料的包括温度、 电、 水、 辐照以及应力 参数的测试 数据集， 并根据所述测试 数据集构建二维统计图谱； 数据筛选模块， 用于基于预设的核函数公式计算所述二维统计图谱对应的核矩阵， 并 对所述核矩阵进行中心化处 理， 得到标准核矩阵： 其中， K′为所述标准核矩阵， INN为预先设定的目标阶数对应的单位矩阵， ENN为所述目标 阶数对应的全一矩阵， N 为所述目标阶数， K为核矩阵； 获取预设的初始单位矩阵E， 根据所述初始单位矩阵及所述标准核矩阵构建特征多项 式|K′ ‑λE|， 对所述特征多项式进行矩阵求解， 得到特征值λ， 并将所述特征值对应的测试数 据作为标准特 征数据； 第一分析模块， 用于基于支持向量机模型构建多分类阶段识别模型， 利用所述多分类 阶段识别模型对所述标准特征数据进 行放电识别， 得到放电识别结果， 其中， 所述放电识别 结果包括具有电树枝放电信号的结果和无电树枝放电信号的结果两种， 当所述放电识别结 果为具有电树枝放电信号时， 对 所述标准特征数据进 行时期划分， 得到阶段识别结果， 根据 所述阶段识别结果对所述测试数据集进行第一绝缘性能分析， 得到第一绝缘性能分析结 果； 合并分析模块， 用于利用定位测试设备对所述目标材料进行定位测试， 并根据所述定 位测试得到的测试数据进行图像绘制， 得到定位谱图， 根据所述定位谱图确定所述 目标材 料中的受潮节段， 并统计所述受潮节段 的节段数量， 根据所述节段数量所处的预设区间判 定所述目标材料 的绝缘情况， 并得到第二绝缘性能分析结果， 根据所述第一绝缘性能分析 结果和所述第二 绝缘性能分析 结果进行合并分析， 得到最终绝 缘性能分析 结果。 6.一种电子设备， 其特 征在于， 所述电子设备包括： 至少一个处 理器； 以及， 与所述至少一个处 理器通信连接的存 储器； 其中， 所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令， 所述指令被所述至少一个处 理器执行， 以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求 1至4中任意一项所述的材料绝缘 性能分析 方法。 7.一种计算机可读存储介质， 存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序被处理 器执行时实现如权利要求1至4中任意 一项所述的材 料绝缘性能分析 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115062495 B 3