(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 20212321 1924.0
(22)申请日 2021.12.20
(73)专利权人 博测通讯科技 (上海) 有限公司
地址 200082 上海市杨 浦区长阳路1687号7
号楼7208室
(72)发明人 汪晓波 凌晨
(74)专利代理 机构 南京明杰知识产权代理事务
所(普通合伙) 32464
专利代理师 葛红
(51)Int.Cl.
F16M 11/26(2006.01)
F16M 11/10(2006.01)
F16M 11/18(2006.01)
H04M 1/24(2006.01)
(54)实用新型名称
高密度智能手机用集成电路校准综合测试
仪
(57)摘要
本实用新型提供高密度智能手机用集成电
路校准综合测试仪, 涉及测试仪领域。 该高密度
智能手机用集成电路校准综合测试仪包括测试
仪本体, 所述测试仪本体一侧设置有齿条, 所述
齿条一侧啮合连接有齿轮, 所述齿轮内部固定连
接有蜗杆, 所述蜗杆顶部啮合连接有蜗轮, 所述
蜗轮内部固定连接有转动杆。 该高密度智能手机
用集成电路校准综合测试仪, 齿轮转动带动蜗杆
转动, 蜗杆转动带动蜗轮转动, 蜗轮转动带动转
动杆转动, 转动杆转动带动测试仪本体转动, 同
时通过蜗杆带动蜗轮转动, 便于在测试仪本体调
节完角度之后使测试仪本体固定, 此结构有益于
对测试仪本体进行角度调节, 便于对测试仪本体
从不同角度进行观测, 结构 简单, 操作方便 。
权利要求书1页 说明书3页 附图2页
CN 216520718 U
2022.05.13
CN 216520718 U
1.高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 包括测试仪本体(1), 其特征在于: 所
述测试仪本体(1)一侧设置有齿条(2), 所述齿条(2)一侧啮合连接有齿轮(3), 所述齿轮(3)
内部固定连接有蜗杆(4), 所述蜗杆(4)顶部啮合连接有蜗轮(5), 所述蜗轮(5)内部固定连
接有转动杆(6), 所述测试仪 本体(1)顶部设置有升降组件。
2.根据权利要求1所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述升降组件包括套筒(7), 所述套筒(7)固定连接于测试仪本体(1)顶部, 所述套筒(7)内部
滑动连接有螺纹杆(8), 所述螺纹杆(8)顶部转动连接有支撑块(12)。
3.根据权利要求2所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述套筒(7)内部开设有滑槽(9), 所述螺纹杆(8)外侧固定连接有滑 块(10), 所述滑 块(10)滑
动接触于滑槽(9)内部 。
4.根据权利要求1所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述测试仪本体(1)一侧设置有支板(18), 所述支板(18)螺纹连接于螺纹杆(8)外侧, 所述支
板(18)底部固定连接有支撑 板(16)。
5.根据权利要求4所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述支撑板(16)顶部固定连接有伸缩杆(17), 所述伸缩杆(17)顶部固定连接有固定块, 所述
转动杆(6)的数量设置为两个, 其中一个所述转动杆(6)转动连接于固定块内部, 另外一个
所述转动杆(6)转动连接于支撑块(12)内部, 两个所述转动杆(6)分别固定连接于测试仪本
体(1)两侧。
6.根据权利要求1所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述测试仪本体(1)一侧分别安装有插座(14)和显示屏(15), 所述插座(14)设置于显示屏
(15)一侧。
7.根据权利要求2所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪, 其特征在于: 所
述支撑块(12)顶部开设有条形槽(13), 所述支撑块(12)滑动连接于齿条(2)外侧, 所述支撑
块(12)转动连接 于蜗杆(4)外侧。权 利 要 求 书 1/1 页
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CN 216520718 U
2高密度智能手机用集成电路校准综合测试 仪
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种综合测试仪, 具体为高密度智能手机用集成电路校准综合测
试仪, 属于测试仪技 术领域。
背景技术
[0002]目前, 随着电器产品的普及和人们对电器产品使用安全意识的提高, 生产企业逐
渐使用安全性能综合测试仪对生产电器产品进行安全性能的测试。 安全性能综合测试仪是
集交直流耐压、 接地电阻、 绝缘电阻、 泄漏电流等测试为一体, 能快速准确 地完成上述性能
指标的测试, 是各电器生产厂家和质检部门重要的检测设备。 为此, 安全性能综合测试仪的
校准就显得尤为重要, 为了确保安全性能综合测试仪测试数据的准确度, 需要定期对安全
性能综合测试仪计量 参数进行 校准。
[0003]传统的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪在进行安全性能测试的时候,
一般测试仪都是直接放置在桌面上的, 角度不能调节, 在读数的时候不够方便, 需要工作人
员一直低头去观察读数, 进 而造成工作人员的工作不便, 同时降低了 工作效率。
实用新型内容
[0004](一)解决的技 术问题
[0005]本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供高密度智能手机用集成电路
校准综合测试仪, 以解决现有技术中在进行安全性能测试 的时候, 一般测试仪都是直接放
置在桌面上的, 角度不能调节, 在读数的时候不够方便, 需要工作人员一直低头去观察读
数, 进而造成工作人员的工作不便, 同时降低了 工作效率的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的, 本实用新型通过以下技术方案予以实现: 高密度智能手机用集
成电路校准综合测试仪, 包括测试仪本体, 所述测试仪本体一侧设置有齿 条, 所述齿 条一侧
啮合连接有齿轮, 所述齿轮内部固定连接有蜗杆, 所述蜗杆顶部啮合连接有蜗 轮, 所述蜗 轮
内部固定连接有转动杆, 所述测试仪 本体顶部设置有升降组件。
[0008]优选地, 所述升降组件包括套筒, 所述套筒固定连接于测试仪本体顶部, 所述套筒
内部滑动连接有螺纹杆, 所述螺纹杆顶部转动连接有支撑块, 通过设置有螺纹杆, 进而便于
调节测试仪 本体的高度, 以便 于方便工作人员进行读数。
[0009]优选地, 所述套筒内部开设有滑槽, 所述螺纹杆外侧固定连接有滑块, 所述滑块滑
动接触于滑槽内部, 通过设置有滑块, 进而便于带动螺纹杆边转动边向上运动, 进而 可以调
节测试仪 本体的高度。
[0010]优选地, 所述测试仪本体一侧设置有支板, 所述支板螺纹连接于螺纹杆外侧, 所述
支板底部固定连接有支撑板, 通过设置有支板, 进而便于对螺纹杆进 行支撑, 以此带动螺纹
杆进行转动对测试仪 本体进行固定 。
[0011]优选地, 所述支撑板顶部固定连接有伸缩杆, 所述伸缩杆顶部固定连接有固定块,说 明 书 1/3 页
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专利 高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪
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